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利用XRF熒光光譜儀Compass300錄井譜圖分析判別巖性

更新時間:2022-12-09      點擊次數(shù):922

利用XRF熒光光譜儀Compass300錄井譜圖分析判別巖性

目的探究快速,高效判別錄井巖屑巖性的方法.利用XRF錄井譜圖,分析XRF譜圖與巖性的關(guān)系,并應(yīng)用最小二乘法進(jìn)行分析.結(jié)果通過對客戶3000個樣品的分析結(jié)果表明,該方法巖性判別符合率達(dá)到80%以上.

結(jié)論是可以利用標(biāo)準(zhǔn)巖性譜圖比對分析,便可判別出測量樣品的巖性.

Compass 300能量色散X射線熒光(EDXRF)基于臺式機(jī)的設(shè)計平臺,其分析性能更接近于功率更高的落地式光譜儀,比一般便攜式設(shè)備測試效果更穩(wěn)定,更出眾。配備了*SDD檢測器, 同時實現(xiàn)了高分辨率,高計數(shù)率CPS和高靈敏度,從而達(dá)到實驗室級別的測試效果。


特點和優(yōu)勢

•Compass 300配備的SDD檢測器優(yōu)勢

>高分辨率:通常優(yōu)于130ev,降低相鄰元素干擾,并提高輕元素檢測效果

>高計數(shù)率:150,000 cps (high count per second)

得到相同的強(qiáng)度,只要普通Si Pin檢測器的0.2~0.05倍的時間,即Si Pin在設(shè)定分析時間為100秒的話,對SDD而言,得到相同的強(qiáng)度,只需5~20秒

>高靈敏度:靈敏度提高6-10倍。低背景值,提高元素檢測下限

•便攜,堅固,緊湊的設(shè)計,輕松實現(xiàn)現(xiàn)場高精度樣品無損檢測

•可分析各種樣品形態(tài):包括礦體、礦塊、礦渣、礦粉、粗礦、精礦、尾礦、土壤、泥土、泥漿、灰塵、粉塵、過濾物、薄膜、廢水、廢油、液體樣品等

•只需制備少量樣品便可進(jìn)行無損檢測

•一鍵測試,一鍵打印報告

•可選配大容量電池,無需外部供電情況下可實現(xiàn)長時間工作


應(yīng)用領(lǐng)域

>分析礦種

涵蓋從Mg至U之間的金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦等

>勘查

多元素現(xiàn)場快速分析,可廣泛應(yīng)用于普查、詳查的各個過程,追蹤礦化異常,擴(kuò)展勘查范圍??纱蟠鬁p少送回實驗室樣品的數(shù)量,從而節(jié)約運輸和分析費用

>巖芯檢測

快速分析巖芯和和其他鉆探樣品,建立礦山三維圖,分析儲量,可大大提高鉆探現(xiàn)場及時決策效率

>開采過程控制

礦體邊界圈定,礦脈走向判定,對開采過程進(jìn)行精確管理和控制,對礦石品位進(jìn)行隨時檢測

>品位控制

對精礦、礦渣、礦尾等礦物品位進(jìn)行精確快速分析,為礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價值判斷依據(jù)

>環(huán)境分析

快速對礦石周圍環(huán)境、尾礦、粉塵、土壤污染等進(jìn)行分析與檢測,評估礦石環(huán)境修復(fù)效果

>石油化工:燃料,潤滑油,添加劑中的硫元素分析,磨損金屬分析

>刑偵及公安:證據(jù)分析,材料匹配,爆炸物等

>食品,化妝品和藥品:添加劑控制,原材料,有害金屬,包裝材料等


技術(shù)參數(shù)

探測器

高分辨率SDD檢測器

激發(fā)源

4瓦微型一體化光管

50kv Max,200uA Max

工作溫度

-20 to 50 °C

測量時間

30-300秒(用戶可自定義測試時間)

樣品類型

液體,固體和粉末

儀器校準(zhǔn)

開機(jī)自動校準(zhǔn)

標(biāo)定曲線

地礦

儀器尺寸

270mm*320mm*230mm(長*寬*高)

樣品腔尺寸

170mm*110mm*17mm(長*寬*高)

儀器重量

10.5kg

顯示屏(分辨率1280*800)

8英寸 Win10操作系統(tǒng)

數(shù)據(jù)傳輸

USB Port, 藍(lán)牙, Wi-Fi, GPS

安全防護(hù)

輻射指示燈

內(nèi)置射線保護(hù)裝置(自動切斷)

軟件警示

報告格式

Excel, PDF

配件及耗材

測試薄膜

礦樣粉末專用測試杯

取樣勺

測試窗口專用薄膜

可選配件

電池:連續(xù)工作八小時

壓片機(jī)

熔片機(jī)

電子秤

磨樣機(jī)

150目篩子


無需每日校準(zhǔn)即可獲得高精度結(jié)果。儀器自帶工廠標(biāo)定曲線,客戶可直接測量樣品。


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